ASTMF 792-08安檢套件，ZYK-F792-08 X射線安檢箱用于使用多個(gè)X射線試件在九個(gè)不同的測(cè)試區(qū)域中校準(zhǔn)和評(píng)估X射線篩查系統(tǒng)的性能水平。
為了滿足測(cè)試復(fù)雜的X射線系統(tǒng)的需要，階梯楔的制造嚴(yán)格符合FAA，TSA，加拿大和DHS的要求。它的開發(fā)是為了滿足增強(qiáng)的多測(cè)試X射線測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)基本上取代了WG F792-88標(biāo)準(zhǔn)以及WG F792-01（e2）案例。每個(gè)套件都提供了一個(gè)堅(jiān)固的定制設(shè)計(jì)，注塑外殼與保護(hù)泡沫塊，保持在適當(dāng)?shù)奈恢?，無論案件的立場(chǎng)步驟楔。我們所有的工具包都帶有1年的制造商缺陷保修。
ASTMF 792-08安檢套件，ZYK-F792-08 X射線安檢箱產(chǎn)品圖片：
ASTM安全測(cè)試對(duì)象&X射線測(cè)試套件
X射線成像系統(tǒng)在全國(guó)范圍內(nèi)由國(guó)內(nèi)和軍事，矯正和安全機(jī)構(gòu)使用。這些系統(tǒng)用于國(guó)際邊界、交通場(chǎng)所、政府大樓和其他場(chǎng)所。X光系統(tǒng)用于發(fā)現(xiàn)隱藏的物體，包括威脅和違禁品。
NIST安全技術(shù)小組（STG）最近了一項(xiàng)工作，以修訂和更新最重要的和接受的檢查站X射線系統(tǒng)成像性能標(biāo)準(zhǔn)。該文件標(biāo)準(zhǔn)被稱為ASTM F792，“評(píng)估安全X射線系統(tǒng)成像性能的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐"，在世界各地廣泛用于測(cè)量此類系統(tǒng)的圖像質(zhì)量和材料檢測(cè)能力。該標(biāo)準(zhǔn)于20世紀(jì)80年代制定，由STG主導(dǎo)的2017年修訂版是15年多來的重大修訂。
修訂后的標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)在包含了三個(gè)不同的測(cè)試對(duì)象，用于不同的測(cè)試場(chǎng)景，這大大提高了以前依賴于單個(gè)測(cè)試對(duì)象的標(biāo)準(zhǔn)的適用性和實(shí)用性。
我們很高興能夠提供這三個(gè)測(cè)試套件沿著ASTM F792-88、ASTM F792-08安全階梯楔和我們的CCSP測(cè)試套件，這些都是有效的X射線安全篩查系統(tǒng)的重要組成部分。
ASTM-F792-17的三個(gè)修訂測(cè)試對(duì)象可描述如下：
F792-RT是一個(gè)小型測(cè)試對(duì)象，用于X射線系統(tǒng)的常規(guī)測(cè)試（RT）（例如日常測(cè)試，以確保系統(tǒng)正常運(yùn)行）。nbsp;該測(cè)試對(duì)象是F792-88測(cè)試對(duì)象的修改，F(xiàn)792-88測(cè)試對(duì)象已被撤回，但仍被行業(yè)用于機(jī)柜X射線系統(tǒng)成像性能的現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證。
F792-HP測(cè)試對(duì)象依賴于特征可見性的人類感知（HP）判斷來對(duì)其測(cè)試進(jìn)行評(píng)分。這基本上是對(duì)先前F792-08測(cè)試對(duì)象的升級(jí)，并進(jìn)行了一些重大改進(jìn)，特別是在材料檢測(cè)測(cè)試方面。
F792-OE測(cè)試對(duì)象被設(shè)計(jì)為進(jìn)行客觀評(píng)估（OE），即使用計(jì)算機(jī)算法進(jìn)行評(píng)估。這個(gè)測(cè)試對(duì)象的設(shè)計(jì)與RT和HP的設(shè)計(jì)不同，RT和HP必須由人類評(píng)估。nbsp; F792-OE測(cè)試對(duì)象的圖像由標(biāo)準(zhǔn)中定義的一組標(biāo)準(zhǔn)圖像分析算法進(jìn)行評(píng)估。因此，人的主觀性或感知的差異不會(huì)影響OE測(cè)試的評(píng)分。
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更新時(shí)間：2024-07-30
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